第一章 簡(jiǎn)介 .........................................................................................................1
1.1 安全須知 ......................................................................................................................... 1 
1.2 技術(shù)用語(yǔ) ......................................................................................................................... 4 
1.3 安裝準(zhǔn)備 ......................................................................................................................... 7 
1.4 安裝說(shuō)明 ......................................................................................................................... 8 
第二章 技術(shù)規(guī)範(fàn) .................................................................................................9
2.1 產(chǎn)品規(guī)格書(shū) ..................................................................................................................... 9 
第三章 面板和背板...........................................................................................11
3.1 前面板說(shuō)明 ................................................................................................................... 11 
3.2 背面板說(shuō)明 ................................................................................................................... 13 
第四章 操作說(shuō)明 ...............................................................................................15
4.1 測(cè)試參數(shù)設(shè)定 ............................................................................................................... 16 
4.2 一般參數(shù)設(shè)定 ............................................................................................................... 25 
4.3 顯示器訊息 ................................................................................................................... 30 
4.4 測(cè)試功能確認(rèn) ............................................................................................................... 37 
4.5 操作程序及步驟 ........................................................................................................... 39 
4.6 耐壓/絕緣測(cè)試器和接地阻抗測(cè)試器連動(dòng)測(cè)試 .......................................................... 41 
第五章 界面說(shuō)明 ...............................................................................................42
5.1 標(biāo)準(zhǔn)遙控界面 ( Remote I / O ).................................................................................... 42 
5.2 RS485 界面(選購(gòu)).......................................................................................................... 46 
第六章 儀錶校正 ...............................................................................................49
6.1 校正步驟 ....................................................................................................................... 49 
6.2 校正完成 ....................................................................................................................... 51 1
第一章 簡(jiǎn)介
高電壓測(cè)試前應(yīng)該注意的規(guī)定和事項(xiàng) !!! 
1.1 安全須知
• 使用本耐壓測(cè)試器以前，請(qǐng)先了解本機(jī)所使用和相關(guān)的安全標(biāo)誌，以策安全。
• 本儀器所引用的安全規(guī)範(fàn)為 Safety Class I 的規(guī)定(機(jī)體具有保護(hù)用的接地端子)。
• 在開(kāi)啟本機(jī)的輸入電源開(kāi)關(guān)前，請(qǐng)先選擇正確的輸入電壓(115V 或 230V 輸入)規(guī)格。
安全符號(hào)
小心標(biāo)誌。 請(qǐng)參考手冊(cè)上所列的警告和注意說(shuō)明，以避免人員受傷害或儀器
受損。
電擊危險(xiǎn)標(biāo)誌，可能會(huì)有高電壓存在，請(qǐng)避免接觸。
機(jī)體接地符號(hào)。
警告應(yīng)注意所執(zhí)行的程序、應(yīng)用、或條件均具有很高的危險(xiǎn)性，可能導(dǎo)致
人員受傷或甚至死亡。
提醒須注意所執(zhí)行的程序、應(yīng)用、或條件均可能造成儀器損壞或失掉儀器
內(nèi)所有儲(chǔ)存的資料。
耐壓測(cè)試器所產(chǎn)生的電壓和電流足以造成人員傷害或感電，為了防止意外傷害或死亡發(fā)
生，在搬移和使用儀器時(shí)，請(qǐng)務(wù)必先觀察清楚，然後再進(jìn)行動(dòng)作。
 
 
WARNING 
CAUTION 請(qǐng)尋求 電子或其指定的經(jīng)銷(xiāo)商給予維護(hù)。
使用未經(jīng) 電子認(rèn)可的零件或附件也不予保證。
儀器被更改， 電子會(huì)將儀器的電路或零件修復(fù)回原來(lái)設(shè)計(jì)的狀態(tài)
嘉仕
2
維護(hù)和保養(yǎng)
使用者的維護(hù)
為了防止感電的發(fā)生，請(qǐng)不要掀開(kāi)儀器的蓋子。 本儀器內(nèi)部所有的零件，絕對(duì)不需使用
者的維護(hù)。 如果儀器有異常情況發(fā)生， 所
附的線路和方塊圖僅供參考之用。
 
定期維護(hù)
本耐壓測(cè)試器、輸入電源線、測(cè)試線、和相關(guān)附件等每年至少要仔細(xì)檢驗(yàn)和校驗(yàn)一次，
以保護(hù)使用者的安全和儀器的精確性。
使用者的修改
使用者不得自行更改儀器的線路或零件，如被更改，儀器的保證則自動(dòng)失效並且本公司
不負(fù)任何責(zé)任。 如發(fā)現(xiàn)送回檢修的
，並收取修護(hù)費(fèi)用。
測(cè)試工作站
工作位置
工作站的位置選定必須安排在一般人員非必經(jīng)的處所，使非工作人員遠(yuǎn)離工作站。 如果
因?yàn)樯a(chǎn)線的安排而無(wú)法做到時(shí)，必須將工作站與其它設(shè)施隔開(kāi)並且特別標(biāo)明“高壓測(cè)
試工作站”。 如果高壓測(cè)試工作站與其它作業(yè)站非常接近時(shí)，必須特別注意安全的問(wèn)題。
在高壓測(cè)試時(shí)，必須標(biāo)明“危險(xiǎn)！ 高壓測(cè)試進(jìn)行中，非工作人員請(qǐng)勿靠近”。
輸入電源
耐壓測(cè)試器必須有良好的接地，作業(yè)前務(wù)必將地線接妥，以確保人員安全。 測(cè)試站的電
源必須有單獨(dú)的開(kāi)關(guān)，裝置於測(cè)試站的入口顯眼處並予特別標(biāo)明，讓所有的人都能辨別
那是測(cè)試站的電源開(kāi)關(guān)。 一旦有緊急事故發(fā)生時(shí)，可以立即關(guān)閉電源，再進(jìn)入處理事故。
工作場(chǎng)所
儘可能使用非導(dǎo)電材質(zhì)的工作桌工作臺(tái)。 操作人員和待測(cè)物之間不得使用任何金屬。 操
作人員的位置不得有跨越待測(cè)物去操作或調(diào)整耐壓測(cè)試器的現(xiàn)象。 如果待測(cè)物體積很
小，儘可能將待測(cè)物放置於非導(dǎo)電的箱體內(nèi)，例如壓克力箱等。
測(cè)試場(chǎng)所必須隨時(shí)保持整齊、乾淨(jìng)，不得雜亂無(wú)章。 不使用之儀器和測(cè)試線請(qǐng)放固定位
置，一定要讓所有的人員都能立即分出何者為正在測(cè)試的物件、待測(cè)物件、和已測(cè)物件。
測(cè)試站及其周邊之空氣中不能含有可燃?xì)怏w或在易燃物質(zhì)的旁邊使用耐壓測(cè)試器。
嘉仕
嘉仕因?yàn)?電子的耐壓器要準(zhǔn)確的量測(cè)微小的漏電電流，所以有些儀器的回路線不是直接
3
操作人員規(guī)定
人員資格
耐壓測(cè)試器所輸出的電壓和電流在錯(cuò)誤的操作誤觸感電時(shí)，足以造成人員傷害或致命，
必須由訓(xùn)練合格的人員使用和操作。
安全守則
操作人員必須隨時(shí)給予教育和訓(xùn)練，使其了解各種操作規(guī)則的重要性，並依安全規(guī)則操
作耐壓測(cè)試器。
衣著規(guī)定
操作人員不可穿有金屬裝飾的衣服或配戴金屬的手飾和手錶等，這些金屬飾物很容易造
成意外的感電。 意外感電時(shí)，後果也會(huì)更加嚴(yán)重。
醫(yī)學(xué)規(guī)定
耐壓測(cè)試器絕對(duì)不能讓有心臟病或配戴心律調(diào)整器的人員操作。
測(cè)試安全程序規(guī)定
絕對(duì)不可在帶電的電路上或設(shè)備上，使用耐壓測(cè)試器！
耐壓測(cè)試器之接地線一定要按照規(guī)定接妥。 在接測(cè)試線時(shí)一定要先將耐壓測(cè)試器上的回
路線[Return Lead]接到待測(cè)物上。 只有在做測(cè)試之前，才能將高壓測(cè)試線插入高壓輸出
端子。 在拿取高壓測(cè)試線時(shí)必須握在絕緣體的部位，絕對(duì)不能握在導(dǎo)電體上。 操作人
員必須確定能夠完全自主掌控耐壓測(cè)試器的控制開(kāi)關(guān)和遙控開(kāi)關(guān)，遙控開(kāi)關(guān)不用時(shí)應(yīng)放
置定位，不可任意放置。
∗[
接地。] 在作測(cè)試時(shí)待測(cè)物必須與地線和大地完全絕緣。 如果待測(cè)物與地線或大地接觸，
可能會(huì)造成無(wú)法量測(cè)電流，或所量測(cè)的電流不準(zhǔn)確。
在耐壓測(cè)試進(jìn)行中，絕對(duì)不能碰觸測(cè)試物件或任何與待測(cè)物有連接的物
件。
必須記著下列安全要點(diǎn)
• 非合格的操作人員和不相關(guān)的人員應(yīng)遠(yuǎn)離高壓測(cè)試區(qū)。
• 隨時(shí)保持高壓測(cè)試區(qū)在安全和有秩序的狀態(tài)。
• 在高壓測(cè)試進(jìn)行中絕對(duì)不碰觸測(cè)試物件或任何與待測(cè)物有連接的物件。
• 萬(wàn)一發(fā)生任何問(wèn)題，請(qǐng)立即關(guān)閉高壓輸出和輸入電源。
• 在直流耐壓測(cè)試後，必須先妥善放電，才能進(jìn)行拆除測(cè)試線的工作。
WARNING 
WARNING 
嘉仕4
1.2 技術(shù)用語(yǔ)
測(cè)試的重要性 ••• 使用者的安全
在消費(fèi)意識(shí)高漲的現(xiàn)今世界，每一個(gè)電氣和電子產(chǎn)品的製造商，必須盡最大的能力，將
產(chǎn)品的安全做好。 每一種產(chǎn)品的設(shè)計(jì)必須盡其可能，不讓使用者有被感電的機(jī)會(huì)。 縱
然是使用者發(fā)生錯(cuò)誤使用也應(yīng)無(wú)感電機(jī)會(huì)。 為了達(dá)到一般公認(rèn)的安全要求，“耐壓測(cè)試
器”就必須被使用。 目前安規(guī)執(zhí)行單位，例如 UL CSA IEC BSI VDE TUV 和 JSI 等都要
求各製造商在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)電子或電氣產(chǎn)品時(shí)要使用“耐壓測(cè)試器”作為安全測(cè)試。
耐壓測(cè)試(Dielectric Withstand Voltage Test)
如果一個(gè)產(chǎn)品能在非常惡劣的環(huán)境下正常的運(yùn)轉(zhuǎn)，就可以確定在正常的環(huán)境下也一定可
以很正常的運(yùn)轉(zhuǎn)。 最常使用耐壓測(cè)試的情況為: 
• 設(shè)計(jì)時(shí)的功能測(cè)試 ••• 確定所設(shè)計(jì)的產(chǎn)品能達(dá)到其功能要求的條件。
• 生產(chǎn)時(shí)的規(guī)格測(cè)試 ••• 確認(rèn)所生產(chǎn)的產(chǎn)品能達(dá)到其規(guī)格要求的標(biāo)準(zhǔn)。
• 品保時(shí)的確認(rèn)測(cè)試 ••• 確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)能符合安規(guī)的標(biāo)準(zhǔn)。
• 維修後的安全測(cè)試 ••• 確認(rèn)維修後的產(chǎn)品能維持符合安規(guī)的標(biāo)準(zhǔn)。
不同的產(chǎn)品有不同的技術(shù)規(guī)格，基本上在耐壓測(cè)試時(shí)是將一個(gè)高於正常工作的電壓加在
產(chǎn)品上測(cè)試，這個(gè)電壓必須持續(xù)一段規(guī)定的時(shí)間。 如果一個(gè)零組件在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，其
漏電電流量亦保持在規(guī)定的範(fàn)圍內(nèi)，就可以確定這個(gè)零組件在正常的條件下運(yùn)轉(zhuǎn)，應(yīng)該
是非常安全。 而優(yōu)良的設(shè)計(jì)和選擇良好的絕緣材料可以保護(hù)使用者，讓他免予受到意外
感電。
本儀器所做的耐壓測(cè)試，一般稱(chēng)之為“高電壓介電測(cè)試”，簡(jiǎn)稱(chēng)為“耐壓測(cè)試”。 基本的規(guī)
定是以?xún)杀鹅洞郎y(cè)物的工作電壓，再加一千伏特，作為測(cè)試的電壓標(biāo)準(zhǔn)。 有些產(chǎn)品的測(cè)
試電壓可能高於 2 X 工作電壓 + 1000 V。 例如有些產(chǎn)品的工作電壓範(fàn)圍是從 100V 到
240V，這類(lèi)產(chǎn)品的測(cè)試電壓可能在 1000V 到 4000V 之間或更高。 一般而言，具有“雙絕
緣”設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，其使用的測(cè)試電壓可能高於 2 X 工作電壓+ 1000 V 的標(biāo)準(zhǔn)。
耐壓測(cè)試在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和樣品製作時(shí)比正式生產(chǎn)時(shí)的測(cè)試更為精密，因?yàn)楫a(chǎn)品在設(shè)計(jì)測(cè)
試階段便已決定產(chǎn)品的安全性。 雖然在產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)只是用少數(shù)的樣品來(lái)作判斷，然而生
產(chǎn)時(shí)的線上測(cè)試更應(yīng)嚴(yán)格要求所有的產(chǎn)品都必須能通過(guò)安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，可以確認(rèn)沒(méi)有不良品
會(huì)流出生產(chǎn)線。
耐壓測(cè)試器的輸出電壓必須保持在規(guī)定電壓的 100%到 120%的範(fàn)圍內(nèi)。AC 耐壓測(cè)試器的
輸出頻率必須維持在 40 到 70Hz 之間，同時(shí)其波峰值不得低於均方根(RMS)電壓值的 1.3
倍，並且其波峰值不得高於均方根(RMS)電壓值的 1.5 倍。5
交流(AC)測(cè)試和直流(DC)測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)
請(qǐng)先與受測(cè)試產(chǎn)品所指定的安規(guī)單位確認(rèn)該產(chǎn)品應(yīng)該使用何種電壓，有些產(chǎn)品可以同時(shí)
接受直流和交流兩種測(cè)試選擇，但是仍然有多種產(chǎn)品只允許接受直流或交流中的一種測(cè)
試。 如果安規(guī)規(guī)範(fàn)允許同時(shí)接受直流或交流測(cè)試，製造廠就可以自己決定何種測(cè)試對(duì)於
產(chǎn)品較為適當(dāng)。 為了達(dá)成此目地，使用者必須了解直流和交流測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)。
交流耐壓(ACW)測(cè)試的特點(diǎn)
大部份做耐壓測(cè)試的待測(cè)物都會(huì)含有一些雜散電容量。 用交流測(cè)試時(shí)可能無(wú)法充飽這些
雜散電容，會(huì)有一個(gè)持續(xù)電流流過(guò)這些雜散電容。
交流耐壓(ACW)測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)
1. 一般而言，交流測(cè)試比直流測(cè)試更容易被安規(guī)單位接受。 主因是大部份的產(chǎn)品都使
用交流電，而交流測(cè)試可以同時(shí)對(duì)產(chǎn)品作正負(fù)極性的測(cè)試，與產(chǎn)品使用的環(huán)境完全一
致，合乎實(shí)際使用狀況。
2. 由於交流測(cè)試時(shí)無(wú)法充飽那些雜散電容，但不會(huì)有瞬間衝擊電流發(fā)生，因此不需讓測(cè)
試電壓緩慢上升，可以一開(kāi)始測(cè)試就全電壓加上，除非這種產(chǎn)品對(duì)衝擊電壓很敏感。
3. 由於交流測(cè)試無(wú)法充滿(mǎn)那些雜散電容，在測(cè)試後不必對(duì)測(cè)試物作放電的動(dòng)作，這是另
外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)。
交流(AC)測(cè)試的缺點(diǎn)
1. 主要的缺點(diǎn)為，如果待測(cè)物的雜散電容量很大或待測(cè)物為電容性負(fù)載時(shí)，這樣所產(chǎn)生
的電流，會(huì)遠(yuǎn)大於實(shí)際的漏電電流，因而無(wú)法得知實(shí)際的漏電電流。
2. 另外一個(gè)缺點(diǎn)是由於必須供應(yīng)待測(cè)物的雜散電容所需的電流，儀器所需輸出的電流會(huì)
比採(cǎi)用直流測(cè)試時(shí)的電流大很多。 這樣會(huì)增加操作人員的危險(xiǎn)性。
直流(DC)測(cè)試的特點(diǎn)
在直流耐壓測(cè)試時(shí)，待測(cè)物上的雜散電容會(huì)被充滿(mǎn)，直流耐壓測(cè)試時(shí)所造成的容性電流，
在雜散電容被充滿(mǎn)後，會(huì)下降到零。
直流(DC)測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)
1. 一旦待測(cè)物上的雜散電容被充滿(mǎn)，只會(huì)剩下待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。 直流耐壓測(cè)試
可以很清楚的顯示出待測(cè)物實(shí)際的漏電電流。 
2. 另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是由於僅需在短時(shí)間內(nèi)，供應(yīng)待測(cè)物的充電電流，其它時(shí)間所需供應(yīng)的
電流非常小，所以?xún)x器的電流容量遠(yuǎn)低於交流耐壓測(cè)試時(shí)所需的電流容量。6
直流(DC)測(cè)試的缺點(diǎn)
1. 除非待測(cè)物上沒(méi)有任何電容量存在，否則測(cè)試電壓必須由“零”開(kāi)始，緩慢上升，以
避免充電電流過(guò)大，電容量越大所需的緩升時(shí)間越長(zhǎng)，一次所能增加的電壓也越低。
充電電流過(guò)大時(shí)，一定會(huì)引起測(cè)試器的誤判，使測(cè)試的結(jié)果不正確。
2. 由於直流耐壓測(cè)試會(huì)對(duì)待測(cè)物充電，所以在測(cè)試後，一定要先對(duì)待測(cè)物放電，才能做
下一步工作。
3. 與交流測(cè)試不一樣，直流耐壓測(cè)試只能單一極性測(cè)試，如果產(chǎn)品要使用於交流電壓
下，這個(gè)缺點(diǎn)必須被考慮。 這也是大多數(shù)安規(guī)單位都建議使用交流耐壓測(cè)試的原因。
4. 在交流耐壓測(cè)試時(shí)，電壓的波峰值是電錶顯示值的 1.4 倍，這一點(diǎn)是一般電錶所不能
顯示的，也是直流耐壓測(cè)試所無(wú)法達(dá)到的。 所以多數(shù)安規(guī)單位都要求，如果使用直
流耐壓測(cè)試，必須提高測(cè)試電壓到相等的數(shù)值。
只有耐壓測(cè)試能檢測(cè)出下列狀況
• 絕緣材料的絕緣強(qiáng)度太弱
• 絕緣體上有針孔 
• 零組件之間的距離不夠
• 絕緣體被擠壓而破裂如果有損壞，請(qǐng)立即通知
在未通知 電子或其經(jīng)銷(xiāo)商前，請(qǐng)勿立即退回產(chǎn)品。
本章主要介紹 電子產(chǎn)品的拆封、檢查、使用前的準(zhǔn)備、和儲(chǔ)存等的規(guī)則。
 電子的產(chǎn)品是包裝在一個(gè)使用泡綿保護(hù)的包裝箱內(nèi)，如果收到時(shí)的包裝箱有破損，
7
1.3 安裝準(zhǔn)備
拆封和檢查
請(qǐng)檢查儀器的外觀是否有無(wú)變形、刮傷、或面板損壞等。
電子或其經(jīng)銷(xiāo)商。 並請(qǐng)保留包裝箱和泡綿，以便了解發(fā)生的原因。 我們的服務(wù)中心會(huì)
幫您修護(hù)或更換新機(jī)。
使用前的準(zhǔn)備
輸入電壓的需求和選擇
71 系列的耐壓測(cè)試器使用 115V AC 或 230V AC ± 15% 47-63 Hz 單相的電源。 在開(kāi)啟儀
器的電源開(kāi)關(guān)以前，請(qǐng)先確認(rèn)背板上的電壓選擇開(kāi)關(guān)，是否放置在正確的位置。 同時(shí)必
須使用正確規(guī)格的保險(xiǎn)絲，保險(xiǎn)絲使用規(guī)格已標(biāo)示在儀器的背板上。 更換保險(xiǎn)絲前，必
須先關(guān)閉輸入電源，以避免危險(xiǎn)。
注意 !!! 本機(jī)使用的保險(xiǎn)絲為 3.15A 快速熔斷型。
輸入電源的要求
在接上輸入電源之前，必須先確認(rèn)電源線上的地線已經(jīng)接妥，同時(shí)也將地
線接到機(jī)體上的接地端子上。 儀器上的電源插頭只能插在帶有地線的電源
插座上。 如果使用延長(zhǎng)線，必須注意延長(zhǎng)線是否帶有接地線。 耐壓測(cè)試器是使用三芯
電纜線。 當(dāng)電纜線插到具有地線的插座時(shí)，即已完成機(jī)體接地。
使用的週圍環(huán)境條件
溫 度 : 0°-40°C (32°-104°F)。
相對(duì)濕度 : 在 20 到 80%之間。
高 度 : 在海拔 2000 公尺(6500 英呎)以下。
WARNING 
嘉仕
嘉仕
嘉仕
嘉仕先與 電子的維修中心連絡(luò)。
 電子的
8
儲(chǔ)存和運(yùn)輸
週圍環(huán)境
71 系列的耐壓測(cè)試器可以在下列的條件下儲(chǔ)存和運(yùn)輸: 
週圍溫度 .....…........... -40°到 75°C 
高度 ............................ 7620 公尺(25000 英呎) 
本機(jī)必須避免溫度的急劇變化，溫度急劇變化可能會(huì)使水氣凝結(jié)於機(jī)體內(nèi)部。
包裝方式
原始包裝: 
請(qǐng)保留所有的原始包裝材料，如果儀器必須回廠維修，請(qǐng)用原來(lái)的包裝材料包裝。 並請(qǐng)
送修時(shí)，請(qǐng)務(wù)必將電源線和測(cè)試線等全部的附件一起送
回，請(qǐng)?jiān)]明故障現(xiàn)象和原因。 另外，請(qǐng)?jiān)诎b上註明“易碎品”請(qǐng)小心搬運(yùn)。
 
其它包裝: 
如果無(wú)法找到原始包裝材料來(lái)包裝，請(qǐng)按照下列說(shuō)明包裝: 
1.先用氣泡布或保麗龍將儀器包妥。
2.再將儀器置於可以承受 150KG (350lb.) 的多層紙箱包裝。
3. 儀器的週圍必須使用可防震的材料填充，厚度大約為 70 到 100mm (3 到 4inch) ，儀器
的面板必須先用厚紙板保護(hù)。
4.妥善密封箱體。
5.註明“易碎品”請(qǐng)小心搬運(yùn)。
1.4 安裝說(shuō)明
嘉仕 71 系列的耐壓測(cè)試器不需其它附屬的現(xiàn)場(chǎng)安裝程序。
嘉仕8% of setting+2counts
5% of setting+2counts
2% of setting+2counts
2% of setting + 5V
2% of setting + 2counts
2% of setting + 2counts
2% of setting + 5V
2% of setting + 2counts
2% of setting + 2counts
2% of setting + 5V
9
第二章 技術(shù)規(guī)範(fàn)
2.1 產(chǎn)品規(guī)格書(shū)
MODEL 7130 7132 7140 7142 
AC WITHSTAND VOLTAGE 
Output Rating 5KVAC/20mA 
 Range Resolution Accuracy 
Output Voltage, KVAC 0-5.00 0.01 ±（ ）
Output Frequency 50Hz/60Hz ±100ppm, User Selection 
Output Waveform Sine Wave ,THD.<2% (Resistive Load), Crest Factor = 1.3 - 1.5 
Output Regulation ± (1% of output + 5V), From no load to full load 
SETTINGS 
Max-Limit AC Current, mA 0 - 20.00 0.01 ±（ ）
Min-Limit AC Current, mA 0 - 9.999 0.001 ±（ ）
Ramp Up Time, second 0.1 - 999.9 0.1 
Ramp Down Time, second 0 - 999.9 0.1 
Dwell Time, second 0, 0.3 - 999.9 
(0=continuous) 
0.1 
±（0.1% + 0.05sec）
Arc Detection 0, 1 - 9 ranges (0=OFF, 9 is the most sensitivity) 
DC WITHSTAND VOLTAGE (7140,7142 ONLY) 
Output Rating 6KVDC/7500µA 
Output Voltage, KVDC 0 - 6.00 0.01 ±（ ）
Output Ripple <5% (6KV/7500µA at Resistive Load) 
SETTINGS 
Max-Limit DC Current, µA 0 - 7500 1 ±（ ）
Min-Limit DC Current, µA 0 - 999.9 0.1 ±（ ）
Ramp Up Time, second 0.1 - 999.9 0.1 
Ramp Down Time, second 0, 1.0 - 999.9 0.1 
Dwell Time, second 0, 0.4 - 999.9 
(0=continuous) 
0.1 
±（0.1% + 0.05sec）
Arc Detection 0, 1 - 9 ranges (0=OFF, 9 is the most sensitivity) 
Discharge Time < 200 msec 
INSULATION RESISTANCE (7132,7142 ONLY) 
Output Rating 1KVDC/9999M?
Output Voltage, DCV 30 - 1000 10 ±（ ）
SETTINGS 
Max-Limit Resistance, M? 0, 1 - 9999 (0=OFF) 1 
Min-Limit Resistance, M? 1 - 9999 1 
±（ ）at 500-1000VDC, 1 -1000 MΩ
±（ ）at 500-1000VDC, 1000 -9999 MΩ
±（ ）at 30-500VDC, 1 -1000 MΩ
Ramp Up Time, second 0.1 - 999.9 0.1 
Ramp Down Time, second 0, 1.0 - 999.9 0.1 8% of setting+2counts
5% of setting+2counts
2% of setting+2counts
2% of reading + 2counts
2% of reading + 2counts
1.5% of reading + 5V
1.5% of reading + 1count
10
Delay Time, second 0, 0.5 - 999.9 
(0=continuous) 
0.1 ±（0.1% + 0.05sec）
MEASUREMENT 
AC/DC Voltage, KV 0 - 6.00 0.01 ±（ ）
DC Voltage, V (IR only) 30 - 1000 1 ±（ ）
AC Current, mA 0 - 3.500 0.001 
3.00 - 20.00 0.01 
±（ ）
DC Current, µA 0 - 350.0 0.1 
DC Current, mA 0.300 - 3.500 0.001 
3.00 - 7.50 0.01 
±（ ）
Resistance, M? 
1 - 9999 
(Auto Range) 
0.001 
0.01 
0.1 
1 
±（ ）at 500-1000VDC, 1 -1000 MΩ
±（ ）at 500-1000VDC, 1000 -9999 MΩ
±（ ）at 30-500VDC, 1 -1000 MΩ
GENERAL 
Input Voltage AC 115/230Vac±15%, 50/60Hz ± 5%, Fuse 3.15A 
PLC Remote Control Input : Test , Reset , Memory1.2.3 , Interlock 
Output : Pass , Fail , Processing , Reset-Out 
Interface(Option) RS485 Interface 
Memory 10 memories, 3 steps/memory 
Graphic Display 128×64 Graphic LCD 
Safety Built-in Smart GFI circuit,GFI trip current 450µA max, HV shut down speed: <1mS 
Key Lock To prevent unauthorized alteration of the test Parameters 
Calibration Build-in software and external calibrated meters 
Verification Build-in software driven verification menu to test fault detection circuits 
Alarm Volume Setting Range: 0-9 ;0=OFF, 1 is softest volume, 9 is loudest volume. 
Environment 0-40℃, 20-80%RH 
Dimension/Net Weight 215mm(W)×89mm(H)×370mm(D)/ 10Kg 
STANDARD ACCESSORIES 
Power Cord(10A) ×1 
Fuses ×2 (Including a spare contained in the fuse holder) 
Interlock Disable Key(1505) ×1 
High Voltage Test Cable(1101) ×1 
Return Test Cable(1102) ×1 11
第三章 面板和背板
3.1 前面板說(shuō)明
 2 3 4 5 6 7 
 
 1 11 10 9 8 
 1. POWER 輸入電源開(kāi)關(guān)
標(biāo)有國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)“1”(ON)和“0”(OFF)符號(hào)的開(kāi)關(guān)，作為輸入的電源開(kāi)關(guān)。
 2. RESET 開(kāi)關(guān)
紅色的瞬時(shí)接觸開(kāi)關(guān)同時(shí)內(nèi)含 FAIL 的指示燈。 在設(shè)定模式時(shí)其功能和 EXIT 鍵相
同，可以作為離開(kāi)設(shè)定模式的開(kāi)關(guān)。 在測(cè)試進(jìn)行時(shí)，作為關(guān)閉警報(bào)聲進(jìn)入下一個(gè)待
測(cè)狀態(tài)的開(kāi)關(guān)。 在測(cè)試進(jìn)行之中，也可以作為中斷測(cè)試的開(kāi)關(guān)。 在待測(cè)物未能通
過(guò)測(cè)試時(shí)，這個(gè)紅色指示燈會(huì)亮。 
 3. TEST 開(kāi)關(guān)
綠色的瞬時(shí)接觸開(kāi)關(guān)同時(shí)內(nèi)含 PASS 的指示燈，作為測(cè)試的起動(dòng)開(kāi)關(guān)。 在待測(cè)物通
過(guò)測(cè)試時(shí)，這個(gè)綠色指示燈會(huì)亮。
 4. LCD 顯示器
128*64 背光式液晶顯示器，作為顯示設(shè)定資料或測(cè)試結(jié)果的顯示器。
 5. Menu/Result 鍵
作為選擇進(jìn)入設(shè)定模式和選擇記憶組、測(cè)試項(xiàng)目、交流或直流耐壓測(cè)試及其參數(shù)設(shè)
定和絕緣阻抗測(cè)試及其參數(shù)設(shè)定的操作鍵，及輸入確認(rèn)和功能設(shè)定以及檢視測(cè)試記12
錄之功能鍵，同時(shí)也作為鍵盤(pán)鎖定的設(shè)定鍵。
6. Memory/Test 鍵
記憶組選擇鍵，可以從 10 組記憶組之中任意選擇一組執(zhí)行測(cè)試在設(shè)定模式時(shí)作為功
能模式選擇和各項(xiàng)測(cè)試參數(shù)數(shù)值輸入的功能鍵。
7. RETURN 端子
回線端子，配合回路測(cè)試線 P/N 1102 使用。
8. H. V. 端子
高壓輸出端子，配合高壓測(cè)試線 P/N 1101 使用。
9. 高電壓標(biāo)誌
當(dāng)儀器開(kāi)始輸出電壓時(shí)，高電壓標(biāo)誌內(nèi)的指示燈
會(huì)閃爍，表示“高電壓輸出中、危險(xiǎn)”。 
10. Step/System 鍵
測(cè)試步驟選擇鍵，每個(gè)記憶組含有 3 測(cè)試步驟 (STEP)，可以使用 STEP 鍵任意選擇
其中一個(gè)步驟，設(shè)定該步驟的測(cè)試參數(shù)， 操作和環(huán)境條件設(shè)定之選擇鍵，如、顯示
器反襯亮度、蜂鳴器音量、遙控或手動(dòng)模式選擇和 DUT 測(cè)試結(jié)果顯示之設(shè)定。
 11. EXIT/ESC 鍵
作為離開(kāi)設(shè)定模式之功能鍵， 如所輸入的數(shù)字有錯(cuò)誤，可以按 Esc 鍵清除錯(cuò)誤的數(shù)
字，再重新輸入正確的數(shù)字，如果所輸入的數(shù)字超出本分析儀規(guī)格範(fàn)圍，儀器會(huì)發(fā)
出警報(bào)聲音。
(P/N 1101)
(P/N 1102)13
3.2 背面板說(shuō)明
 11 5 7 8 9 10 
 6 1 2 3 4 
1. OPTION 端子排
提供一選購(gòu)界面 RS485(詳細(xì)請(qǐng)參閱 Pag.47)。
2. SIGNAL OUTPUT 端子排
遙控訊號(hào)輸出端子排，D 型 (9PIN) 端子排母座，使用繼電器 (RELAY) 接點(diǎn)輸出
PASS、FAIL 和 PROCESSING 等功能的訊號(hào)，以供遙控裝置使用。(詳細(xì)請(qǐng)參閱
Pag.44)。
3. SIGNAL INPUT 端子排
遙控訊號(hào)輸入端子排，D 型 (9PIN) 型端子排公座，可以輸入 TEST 和 RESET 的控
制訊號(hào)，以及選擇執(zhí)行記憶組 #1、#2 和 #3 等功能的遙控輸入訊號(hào)。(詳細(xì)請(qǐng)參閱
Pag.44)。
4. 校正按鍵開(kāi)關(guān)
要進(jìn)入校正模式時(shí)，需先按住此開(kāi)關(guān)，再開(kāi)啟輸入電源開(kāi)關(guān)。
5. H. V. 端子
高壓輸出端子，配合高壓測(cè)試線 P/N 1101 使用。
(P/N 1101)14
6. RETURN 端子
回線端子 ，配合回路測(cè)試線 P/N 1102 使用。
7. 輸入電源保險(xiǎn)絲座
先關(guān)閉輸入電源開(kāi)關(guān)，才能更換保險(xiǎn)絲，並且應(yīng)更換標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格的保險(xiǎn)絲。
8. 輸入電源插座
標(biāo)準(zhǔn)的 IEC 320 電源插座，可以接受標(biāo)準(zhǔn)的 NEMA 電源插頭。
9. 接地(EARTH)端子
機(jī)體的接地端子，請(qǐng)務(wù)必接妥接地線以確保操作人員安全。
10. 輸入電壓選擇開(kāi)關(guān)
選擇輸入電源電壓，開(kāi)關(guān)向左為 115V，開(kāi)關(guān)向右為 230V，儀器出廠時(shí)設(shè)定在 230V 的位置。
11. 散熱風(fēng)扇
連續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)排熱風(fēng)扇，請(qǐng)保持背板後方良好的排風(fēng)散熱空間。
(P/N 1102)15
第四章 操作說(shuō)明
71 系列的耐壓測(cè)試器備有連結(jié)鎖定功能，要進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)定
前，需先確認(rèn)鍵盤(pán)是否被鎖定。 於按下 Test 鍵後，如果
本儀器已被鎖定，會(huì)發(fā)出兩聲短暫“嗶”的警告聲，同時(shí)顯
示器也會(huì)顯示: 如右圖。
隨後又回到原先的畫(huà)面。 因此必須先解除鎖定，才能進(jìn)行測(cè)試， 請(qǐng)安裝解除鎖定裝置，
解除連結(jié)的鎖定。
71 系列的耐壓測(cè)試器也備有鍵盤(pán)鎖定功能，要進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)
定前，需先確認(rèn)鍵盤(pán)是否被鎖定。 於按下 Menu 鍵後，
進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)定畫(huà)面後，如果本儀器的鍵盤(pán)已被鎖定，會(huì)發(fā)
出兩聲短暫“嗶”的警告聲，同時(shí)顯示器也會(huì)顯示:如右圖。 
隨後又回到原先的畫(huà)面。 因此必須先解除鎖定，才能進(jìn)行測(cè)試參數(shù)的設(shè)定。 請(qǐng)參照鍵
盤(pán)鎖定的說(shuō)明，解除鍵盤(pán)的鎖定。
“Menu”鍵是進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)定模式的操作鍵，當(dāng)進(jìn)入主目錄設(shè)定模式後可選擇 Menu，
Memory， Step 及 Exit 功能，再按一次 Menu 鍵，會(huì)進(jìn)入到下一個(gè)子目錄模式，同時(shí)會(huì)
自動(dòng)將設(shè)定的測(cè)試參數(shù)存入記憶體內(nèi)。 存入記憶體內(nèi)的測(cè)試參數(shù)或模式，在關(guān)閉輸入電
源後仍然被繼續(xù)保留而不會(huì)被清除，除非再經(jīng)過(guò)人為的重新設(shè)定，如下圖。
轉(zhuǎn)動(dòng)到最後一個(gè)測(cè)試參數(shù)設(shè)定的項(xiàng)目之後會(huì)再回到最初第一個(gè)參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目。 然而轉(zhuǎn)動(dòng)
的參數(shù)項(xiàng)目會(huì)依所選擇的參數(shù)設(shè)定為交流耐壓測(cè)試、直流耐壓測(cè)試或絕緣阻抗測(cè)試等而
有所不同，程式會(huì)依照不同的項(xiàng)目而提供不同的參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目。
在測(cè)試參數(shù)設(shè)定的過(guò)程中，如果不必全部重新設(shè)定時(shí)，可以在任何一個(gè)步驟完成後，按16
“EXIT”鍵離開(kāi)測(cè)試參數(shù)設(shè)定模式，程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入待測(cè)模式，並將已設(shè)定的測(cè)試參數(shù)存
入記憶體內(nèi)。
程式不接受不合理的設(shè)定和輸入，如有不合理的設(shè)定或輸入時(shí)，會(huì)發(fā)出兩個(gè)短暫?jiǎn)舻木?br /> 告聲並且回到原先的設(shè)定。 
4.1 測(cè)試參數(shù)設(shè)定 
Memory 鍵
10 個(gè)測(cè)試程式記憶組 (MEMORY) 具有 3 個(gè)測(cè)試步驟 (STEP)，每個(gè)測(cè)試步驟均可依序
連結(jié)到下一個(gè)測(cè)試程式記憶組的測(cè)試步驟。但每個(gè)測(cè)試步驟只能設(shè)定一種測(cè)試功能，下
表為各測(cè)試程式記憶組和各測(cè)試步驟功能設(shè)定的說(shuō)明圖 : 
MEMORY 0 STEP 1 STEP 2 STEP 3 
每個(gè)測(cè)試步驟
只可選擇一個(gè)
測(cè)試功能
ACW 
DCW 
IR 
ACW 
DCW 
IR 
ACW 
DCW 
IR 
MEMORY 2 STEP 1 STEP 2 STEP 3 
每個(gè)測(cè)試步驟
只可選擇一個(gè)
測(cè)試功能
ACW 
DCW 
IR 
ACW 
DCW 
IR 
ACW 
DCW 
IR 
. 
. 
MEMORY 9 STEP 1 STEP 2 STEP3 
每個(gè)測(cè)試步驟
只可選擇一個(gè)
測(cè)試功能
ACW 
DCW 
IR 
ACW 
DCW 
IR 
ACW 
DCW 
IR 
註解 : 1.在 7130 和 7140 的機(jī)型上，沒(méi)有絕緣阻抗 IR 測(cè)試功能，在儀器上也不會(huì)出
現(xiàn)這項(xiàng)功能的設(shè)定鍵和參數(shù)。
 2.按 Memory 鍵會(huì)依序進(jìn)入下一個(gè)記憶組，在第 9 個(gè)測(cè)試步驟之後，會(huì)回到
第 0 個(gè)步驟。
 
Step 鍵
在按 STEP 鍵後，液晶顯示器上將會(huì)顯示，該步驟所設(shè)定測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試參數(shù)，也就是
交流耐壓、直流耐壓、絕緣阻抗測(cè)試參數(shù)。再按一次 STEP 鍵，會(huì)依序進(jìn)入下一個(gè)測(cè)試
步驟，在第 3 個(gè)測(cè)試步驟之後，會(huì)回到第 1 個(gè)步驟。17
當(dāng)測(cè)試步驟被連結(jié)到下一個(gè)測(cè)試步驟時(shí)，液晶顯示器上會(huì)在
步驟的代表數(shù)字之後顯示一個(gè) _ ，例如:進(jìn)行第 1 記憶組的第
1 測(cè)試步驟之後，會(huì)自動(dòng)連結(jié)到第 1 記憶組的第 2 測(cè)試步驟，
如右圖。
EXIT 鍵
作為離開(kāi)設(shè)定模式之功能鍵。
Test 鍵
在按 Test 鍵後，則進(jìn)入耐壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定模式，LCD 顯示器即顯示如下圖。
Test Type XXX : 耐壓測(cè)試項(xiàng)目設(shè)定模式
Voltage X.XXKV : 測(cè)試電壓設(shè)定(單位為 10V) 
Max Lmt XX.XXmA :上限設(shè)定 。
Min Lmt X.XXX mA :下限設(shè)定 。
Ramp UP X.Xs: 緩升時(shí)間設(shè)定， (其單位為 0.1 sec/step)。
Dwell X.Xs: 測(cè)試時(shí)間參數(shù)設(shè)定， (其單位為 0.1 sec/step)。
Ramp DN X.Xs: 緩降時(shí)間設(shè)定， (其單位為 0.1 sec/step)。
Arc Sense X :電弧靈敏度(0-9)設(shè)定
Frequency XXHz: 輸出頻率設(shè)定，( 50 或 60 Hz) 。
Connect ON/OFF: 步驟連結(jié)設(shè)定。
註明 : 1.X 為數(shù)字 (0~9) 。
2.按 Edit 鍵進(jìn)入至各項(xiàng)測(cè)試參數(shù)的編輯鍵。
 
耐壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定
耐壓測(cè)試的參數(shù)設(shè)定是使用 ∧ 或 ∨ 鍵作為選擇參數(shù)項(xiàng)目的操作鍵。，每按一次則進(jìn)入
下一個(gè)參數(shù)項(xiàng)目，耐壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目依序?yàn)?:測(cè)試項(xiàng)目(Test Type)、電壓(Voltage)、
電流上限 (Max Lmt)、電流下限 (Min Lmt)、緩升時(shí)間 (Ramp UP)、測(cè)試時(shí)間 (Dwell 
Time)、緩降時(shí)間 (Ramp DN)、電弧靈敏度 (ARC Sense)、頻率 (Frequency) (直流耐
壓測(cè)試無(wú)此項(xiàng)目)、步驟連結(jié) ( Connect)。
測(cè)試項(xiàng)目(Test Type)選擇
請(qǐng)用“+”或“-”鍵選擇要作測(cè)試的項(xiàng)目，本儀器備有交流耐壓測(cè)試(ACW)、直流耐壓測(cè)試
(DCW)、絕緣阻抗測(cè)試(IR)、等三種測(cè)試項(xiàng)目可供選擇， 如下圖。 不同的機(jī)型可供選
擇的測(cè)試項(xiàng)目會(huì)有所不同，下面表列為各機(jī)型可選擇的測(cè)試項(xiàng)目對(duì)照表: 18
 
輸出電壓(Voltage)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Voltage 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入耐壓測(cè)試的輸
出電壓設(shè)定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出電壓，再按 ENTER 鍵，
將設(shè)定數(shù)值存入，其單位為“KV” ，如下圖。
漏電電流上限(Max Lmt)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Max Lmt 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入漏電電流上限
設(shè)定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測(cè)試的漏電電流
上限值，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，其單位為“mA”， 如下圖。
漏電電流下限(Min Lmt)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Min Lmt 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入漏電電流下限
設(shè)定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測(cè)試的漏電電流
下限值，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，其單位為“mA”，如下圖。
機(jī) 型 可選擇的測(cè)試項(xiàng)目
7130 ACW 
7132 ACW、IR 
7140 ACW、DCW 
7142 ACW、DCW、IR 19
緩升時(shí)間(Ramp Up)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Ramp Up 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入緩升時(shí)間設(shè)
定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測(cè)試的緩升時(shí)間
值，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，其單位為“s” ，如下圖。
測(cè)試時(shí)間(Dwell)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Dwell 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入測(cè)試時(shí)間設(shè)定模
式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測(cè)試的測(cè)試時(shí)間值，
再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，其單位為“s” ，如下圖。
緩降時(shí)間(Ramp DN)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Ramp DN 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入緩降時(shí)間設(shè)
定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測(cè)試的緩降時(shí)間
值，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，其單位為“s” ，如下圖。20
電弧靈敏度 (Arc Sense) 設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Arc Sense 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入電弧靈敏度
設(shè)定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入輸入電弧靈敏度數(shù)值 (計(jì)有 0 ~ 9 段)，再按
ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，9 為靈敏度最高，而“0”為不偵測(cè)待測(cè)物的電弧狀況，如下
圖。 
輸出頻率(Frequency)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Frequency 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入輸出頻率設(shè)
定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測(cè)試的輸出頻率
選擇切換輸出頻率為 50 或 60 Hz，再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，如下圖。(本功能
只有交流耐壓才有)
Level 9 2.8 mAp 
Level 8 5.5 mAp 
Level 7 7.7 mAp 
Level 6 10 mAp 
Level 5 (Default) 12 mAp 
Level 4 14 mAp 
Level 3 16 mAp 
Level 2 18 mAp 
Level 1 20 mAp 
電弧偵測(cè)靈敏度
設(shè)定
設(shè)定範(fàn)圍：1 ~ 9 設(shè)定範(fàn)圍：2 ~ 20mAp 21
步驟連結(jié)(Connect)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Connect 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入步驟連結(jié)設(shè)定
模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出交流或直流耐壓測(cè)試的步驟連結(jié)選
擇切換為 ON 或 OFF。再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，如步驟連結(jié)設(shè)定為 ON 時(shí)，
在本步驟測(cè)試完成後，會(huì)自動(dòng)連結(jié)到下一個(gè)步驟繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。如果設(shè)為 OFF 時(shí)，在本
步驟測(cè)試完成後，則會(huì)立即停止測(cè)試，不會(huì)接續(xù)到下一個(gè)測(cè)試步驟，如下圖。
這是耐壓測(cè)試參數(shù)(Test)設(shè)定的最後一個(gè)步驟，可以再按 Exit 鍵回到程式記憶組參數(shù)設(shè)定
步驟，檢查所設(shè)定的測(cè)試參數(shù)是否有誤，或直接按“EXIT”鍵離開(kāi)測(cè)試參數(shù)設(shè)定模式，而
進(jìn)入待測(cè)模式，準(zhǔn)備正式進(jìn)行耐壓測(cè)試。
絕緣阻抗測(cè)試參數(shù)(IR)設(shè)定
絕緣阻抗測(cè)試的參數(shù)設(shè)定也是使用∧或∨鍵作為選擇參數(shù)項(xiàng)目的操作鍵。，每按一次則進(jìn)
入下一個(gè)參數(shù)項(xiàng)目，耐壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定項(xiàng)目依序?yàn)?:測(cè)試項(xiàng)目(Test Type)、電壓
(Voltage)、絕緣阻抗上限 (Max Lmt)、絕緣阻抗下限 (Min Lmt)、緩升時(shí)間 (Ramp UP)、
延遲判定時(shí)間 (Delay)、緩降時(shí)間 (Ramp DN)、步驟連結(jié) ( Connect)。
測(cè)試項(xiàng)目(Test Type)選擇
請(qǐng)用“+”或“-”鍵選擇要作測(cè)試的項(xiàng)目，本儀器備有交流耐壓測(cè)試(ACW)、直流耐壓測(cè)試
(DCW)、絕緣阻抗測(cè)試(IR)、等三種測(cè)試項(xiàng)目可供選擇。 不同的機(jī)型可供選擇的測(cè)試項(xiàng)
目會(huì)有所不同，下面表列為各機(jī)型可選擇的測(cè)試項(xiàng)目對(duì)照表。
機(jī) 型 可選擇的測(cè)試項(xiàng)目
7130 ACW 
7132 ACW、IR 
7140 ACW、DCW 
7142 ACW、DCW、IR 22
Test 鍵
在按 Test 鍵後，則進(jìn)入耐壓測(cè)試參數(shù)設(shè)定模式，LCD 顯示器即顯示，如下圖。
Test Type xxx : 絕緣阻抗測(cè)試項(xiàng)目設(shè)定模式
Voltage X.XXkV : 測(cè)試電壓設(shè)定(單位為 1V) 
Max Lmt X MΩ : 絕緣阻抗上限設(shè)定 。
Min Lmt XX MΩ: 絕緣阻抗下限設(shè)定 。
Ramp UP X.Xs: 緩升時(shí)間設(shè)定， (其單位為 0.1sec/step)。
Delay X.Xs: 延遲判定時(shí)間參數(shù)設(shè)定， 
(其單位為 0.1 sec/step)。
Ramp DN X.Xs: 緩降時(shí)間設(shè)定，
(其單位為 0.1 sec/step)。 
Connect ON/OFF: 步驟連結(jié)設(shè)定。
註明 : 1.X 為數(shù)字 (0~9) 。
2.按 Edit 鍵進(jìn)入至各項(xiàng)測(cè)試參數(shù)的編輯鍵。
輸出電壓(Voltage)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Voltage 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入絕緣阻抗測(cè)試
的輸出電壓設(shè)定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出電壓，再按 ENTER
鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，，其單位為(其單位為 1 Volt/step) ，如下圖。
絕緣阻抗上限(Max Lmt)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Max Lmt 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入絕緣阻
抗上限設(shè)定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入絕緣阻抗上限值 (其單位為 1 M?/step)，
然後再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。如不作絕緣阻抗上限判定，必須將這項(xiàng)功能的
參數(shù)設(shè)定為 0，如下圖。23
絕緣阻抗下限(Min Lmt)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Min Lmt 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入絕緣阻抗下
限設(shè)定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入絕緣阻抗下限值 (單位為 1M?/step)，然後再
按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，如下圖。
緩升時(shí)間(Ramp Up)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Ramp Up 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入緩升時(shí)間設(shè)
定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出絕緣阻抗測(cè)試的緩升時(shí)間值，再按
ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，其單位為“s”。 如下圖
判定延遲時(shí)間(Delay)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Delay 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入判定延遲時(shí)間設(shè)
定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入判定延遲時(shí)間值 (單位為 0.1sec/step)，然後再按
ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入。判定延遲時(shí)間設(shè)定是作為本分析儀在執(zhí)行絕緣阻抗上、下
限判定的時(shí)間依據(jù)，因?yàn)楸粶y(cè)物大多數(shù)都具有電容性 (Capacitive) 而產(chǎn)生很大的充電電
流，判定延遲時(shí)間可以讓本分析儀在充電電流穩(wěn)定之後，才做判定。判定延遲的時(shí)間必
須依據(jù)被測(cè)物的電容性大小和絕緣阻抗所需要的精確度，作為設(shè)定的參考和依據(jù)，如下
圖。
緩降時(shí)間(Ramp DN)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Ramp DN 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入緩降時(shí)間設(shè)
定模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出絕緣阻抗測(cè)試的緩降時(shí)間值，再
按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，其單位為“s” ，如下圖。24
步驟連結(jié)(Connect)設(shè)定
請(qǐng)用面板上的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Connect 檔位後按 Edit 鍵後，程式會(huì)進(jìn)入步驟連結(jié)設(shè)定
模式，請(qǐng)用面板上的“+”或“-”鍵輸入所要設(shè)定的輸出絕緣阻抗測(cè)試的步驟連結(jié)選擇切換
為 ON 或 OFF。再按 ENTER 鍵，將設(shè)定數(shù)值存入，如步驟連結(jié)設(shè)定為 ON 時(shí)，在本步
驟測(cè)試完成後，會(huì)自動(dòng)連結(jié)到下一個(gè)步驟繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。如果設(shè)為 OFF 時(shí)，在本步驟測(cè)
試完成後，則會(huì)立即停止測(cè)試，不會(huì)接續(xù)到下一個(gè)測(cè)試步驟，如下圖。
這是絕緣阻抗測(cè)試參數(shù)(Test)設(shè)定的最後一個(gè)步驟，可以再按 Exit 鍵回到程式記憶組參數(shù)
設(shè)定步驟，檢查所設(shè)定的測(cè)試參數(shù)是否有誤，如有錯(cuò)誤，依程序進(jìn)行修正錯(cuò)誤部份即可，
或直接按“EXIT”鍵離開(kāi)測(cè)試參數(shù)設(shè)定模式，而進(jìn)入待測(cè)模式，準(zhǔn)備正式進(jìn)行絕緣阻抗測(cè)
試。25
4.2 一般參數(shù)設(shè)定
 
一般參數(shù)設(shè)定選擇鍵
使用 System 鍵作為選擇一般參數(shù)項(xiàng)目的操作鍵。按一下“∨”鍵，會(huì)順向轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)參數(shù)項(xiàng)
目，依序?yàn)?PLC 遙控 (PLC Remote)、單一步驟連結(jié)測(cè)試(Single Step)、警報(bào)音量 (Alarm)、
LCD 反襯亮度 (Contrast)、測(cè)試結(jié)果選擇(Results)、鍵盤(pán)鎖定(Lock)、程式記憶組鎖定(Mem 
Lock)、接地中斷停止(Smart GFI)，轉(zhuǎn)動(dòng)到最後一項(xiàng)後，會(huì)再轉(zhuǎn)到第一項(xiàng)從新開(kāi)始。
這些儀器的系統(tǒng)參數(shù)為測(cè)試時(shí)在儀器上的一般設(shè)定條件，與儀器測(cè)試的功能參數(shù)並無(wú)任
何關(guān)聯(lián)，這些系統(tǒng)參數(shù)設(shè)定的儲(chǔ)存的位置，也與功能參數(shù)完全分開(kāi)，如下圖。
System 鍵
在按 System 鍵後，則進(jìn)入一般參數(shù)項(xiàng)目設(shè)定模式，LCD 顯示器即顯示如上圖。
PLC Remote ON/OFF : PLC 遙控
Single Step ON/OFF : 單一步驟連結(jié)測(cè)試 
Alarm X : 警報(bào)音量
Contrast X : LCD 反襯亮度
Results All/Last P/F : 測(cè)試結(jié)果選擇
Lock ON/OFF : 鍵盤(pán)鎖定
Mem Lock ON/OFF : 程式記憶組鎖定
Smart GFI ON/OFF : 接地中斷停止
Cal Alert ON/OFF:校驗(yàn)提示訊息
Cal Date XX/XX/XX:出廠校驗(yàn)日期
Cal Due XX/XX/XX:下次校驗(yàn)週期日期
Alert XX/XX/XX: 校驗(yàn)提示日期
Date dmy XX/XX/XX:現(xiàn)在日期
Time XX:XX AM/PM:現(xiàn)在時(shí)間
註明 : 1.X 為數(shù)字 (0~9) 。
2.按“∨”鍵進(jìn)入至各項(xiàng)測(cè)試參數(shù)的編輯鍵。
3.“+” 鍵輸入選擇 0-9 或切換 ON/OFF 或 Last，All，P/F 
4. Exit 為離開(kāi)鍵。26
PLC 遙控(PLC Remote)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 PLC Remote 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF。如
PLC 遙控設(shè)定為 ON，本分析儀的測(cè)試啟動(dòng)功能必須經(jīng)由儀器背板的遙控端子控制，面板
上的 TEST 開(kāi)關(guān)不會(huì)起作用，而 RESET 開(kāi)關(guān)仍然維持可以操作，不受任何影響。如 PLC
遙控設(shè)定為 OFF，本分析儀的測(cè)試操作功能完全由面板上的 TEST 開(kāi)關(guān)和 RESET 開(kāi)關(guān)
操作，但是背板上的遙控 RESET 仍然有效，如下圖。
單一步驟連結(jié)測(cè)試(Single Step)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Single Step 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF。如
Single Step 遙控設(shè)定為 ON，本分析儀執(zhí)行步驟連結(jié)測(cè)試時(shí)，當(dāng)?shù)谝唤M step 測(cè)試結(jié)束時(shí)，
需再按 TEST 開(kāi)關(guān)，才會(huì)執(zhí)行下一組 step 測(cè)試， 如 Single Step 遙控設(shè)定為 OFF， 本分
析儀執(zhí)行步驟連結(jié)測(cè)試時(shí)，當(dāng)?shù)谝唤M step 測(cè)試結(jié)束時(shí)，會(huì)自動(dòng)連結(jié)下一組 step 測(cè)試，如
下圖。
警報(bào)音量(Alarm)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Alarm 檔位後按“+”鍵輸入選擇 0 ~ 9，0 是作為關(guān)閉警報(bào)聲音
之用，1 的音量最小，而 9 為最大。請(qǐng)用數(shù)字鍵輸入警報(bào)音量的數(shù)字，程式會(huì)立即改變警
報(bào)音量的設(shè)定，並發(fā)出設(shè)定之音量。在警報(bào)音量設(shè)定完成後，時(shí)程式會(huì)自動(dòng)將所設(shè)定的
警報(bào)音量數(shù)字存入記憶程式內(nèi)，如下圖。
LCD 反襯亮度(Contras)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Contras 檔位後按“+”鍵輸入選擇 1 ~ 9，顯示器會(huì)立即改變
LCD 的反襯亮度，以供立即檢視反襯亮度是否適當(dāng)。如須修改反襯亮度，可以直接修改，
在 LCD 反襯亮度設(shè)定完成後，程式會(huì)自動(dòng)將所設(shè)定的反襯亮度數(shù)字存入記憶程式內(nèi)。LCD
反襯亮度的設(shè)定為 1 ~ 9 ，1 為反襯亮度最弱，而 9 為反襯亮度最強(qiáng)，如下圖。27
測(cè)試結(jié)果選擇(Results)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Results 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 All 或 Last 或 P/F，如
下圖。All 為在 LCD 同時(shí)顯示三種測(cè)試結(jié)果，Last 為在 LCD 顯示單一測(cè)試結(jié)果，P/F 為
在 LCD 顯示 PASS 或 FAIL 二種測(cè)試結(jié)果。
鍵盤(pán)鎖定(Lock)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Lock 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF。鎖定和解
鎖定程序如下：
1. 先按住前面面板上的 Menu 鍵，然後再開(kāi)啟儀器的輸入電源開(kāi)關(guān)，電源開(kāi)啟後放開(kāi)按
鍵經(jīng)過(guò)短暫時(shí)間後，程式會(huì)自動(dòng)進(jìn)入開(kāi)機(jī)模示，此時(shí)按二次“Menu”鍵即可進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)
定模式，進(jìn)入此畫(huà)面按 System 鍵即可進(jìn)入一般參數(shù)項(xiàng)目，按“∨”鍵移動(dòng)至 Lock 檔位
後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF。
2. 如果要將鎖定模式由“ON”更改設(shè)定為“OFF”時(shí)，請(qǐng)先關(guān)閉本儀器的輸入電源開(kāi)關(guān)，
然後再依照上述的程序開(kāi)機(jī)，程式會(huì)自動(dòng)改變鎖定的模式。
3. 設(shè)定完成後，會(huì)自動(dòng)將設(shè)定參數(shù)存入記憶體內(nèi)，不必操作任何其他的按鍵。
4. 鍵盤(pán)被鎖定後，面板上除 TEST 和 RESET 開(kāi)關(guān)外，其餘全部的按鍵(包含呼叫記憶程
式組在內(nèi))會(huì)被鎖定而無(wú)法操作，如下圖。28
程式記憶組鎖定(Mem Lock)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Mem Lock 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF。如
Mem Lock 設(shè)定為 ON，則程式記憶組(Memory)會(huì)在鍵盤(pán)被鎖定時(shí)，被鎖定而無(wú)法被呼
叫。如果程式記憶鎖定功能被選擇為“OFF”時(shí)，則程式記憶組在鍵盤(pán)被鎖定時(shí)，仍然可以
被呼叫，但測(cè)試參數(shù)無(wú)法作任何更改。其與鍵盤(pán)未被鎖定之不同處，為只能呼叫程式記
憶組內(nèi)已設(shè)定的測(cè)試參數(shù)。本儀器在出廠時(shí)，鍵盤(pán)鎖定功能已被預(yù)先選擇為“ON” ，如下
圖。
接地中斷停止(Smart GFI)
接地中斷停止(Smart GFI)是一種來(lái)防止操作員有可能接觸高壓電路而造成觸電現(xiàn)象所設(shè)
計(jì)的保護(hù)裝置，直接量測(cè)地線的電流，如此將可避免因地位置擺錯(cuò)造成錯(cuò)誤的判斷及誤
動(dòng)作。 請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Smart GFI 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或
OFF。
如 Smart GFI 設(shè)定為 ON， Smart GFI 會(huì)自動(dòng)偵測(cè)此為高壓對(duì) Return 或高壓對(duì)地的線路，
若是為高壓對(duì)地的線路，且偵測(cè)高壓對(duì)地流過(guò)的電流 >450µA 時(shí) GFI 會(huì)動(dòng)作，並會(huì)在 1mS
內(nèi)切斷輸出停止測(cè)試。 如 Smart GFI 設(shè)定為 OFF，則無(wú)此功能，但仍可進(jìn)行測(cè)試，如下
圖。 
 
 
 
 
 這是一般參數(shù)設(shè)定(System)設(shè)定的最後一個(gè)步驟，可以直接按“EXIT”鍵離開(kāi)測(cè)試參數(shù)設(shè)
定模式，而進(jìn)入待測(cè)模式，準(zhǔn)備正式進(jìn)行耐壓測(cè)試。
 
校驗(yàn)提示訊息(Cal Alert)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Cal Alert 檔位後按“+”鍵輸入選擇切換為 ON 或 OFF，如下
圖。
 
 
 
 29
 如 Cal Alert 設(shè)定為 ON， 本分析儀到須校驗(yàn)的日期時(shí)，本分析儀會(huì)再每次開(kāi)機(jī)時(shí)出現(xiàn)提
示畫(huà)面，以告知使用單位，本分析儀校驗(yàn)日期已到需要校驗(yàn)，如右圖；如 Cal Alert 設(shè)定
為 OFF，則無(wú)此功能。
 出廠校驗(yàn)日期(Cal Date)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Cal Date 檔位後按“>”選
擇所要修改的欄位，在按“+”鍵來(lái)作修改的動(dòng)作，如
右圖。(備註:本功能為出廠校驗(yàn)的日期，一般使用者
無(wú)法修改，如須修改，請(qǐng)聯(lián)絡(luò)本公司工程人員) 。
 
 下次校驗(yàn)週期日期(Cal Due)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Cal Date 檔位後按“>”
選擇所要修改的欄位，在按“+”鍵來(lái)作修改的動(dòng)
作，如右圖。 (備註:本功能可依照各公司的需求作
修改，原始設(shè)定為一年) 。
 
 校驗(yàn)提示日期(Alert)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Cal Date 檔位後按“>”
選擇所要修改的欄位，在按“+”鍵來(lái)作修改的動(dòng)
作，如右圖。 (備註:本功能預(yù)設(shè)值會(huì)比下次校驗(yàn)週
期日期早一個(gè)月，可依照各公司的需求作修改) 。
 
 現(xiàn)在日期(Date)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Date 檔位後按“>”選擇所要修改的欄位，在按“+”鍵來(lái)作修改
的動(dòng)作，日期顯示的格式有兩種，一種為日.月.年，另一種為月.日.年，如下圖。
 
 
 
 
 
現(xiàn)在時(shí)間(Time)
請(qǐng)用面板上的“∨”鍵移動(dòng)至 Time 檔位後按“>”選
擇所要修改的欄位，在按“+”鍵來(lái)作修改的動(dòng)作，
如右圖。
 
 30
4.3 顯示器訊息
以下為本儀器在執(zhí)行測(cè)試時(shí)，會(huì)出現(xiàn)在液晶顯示器上的各種訊息。 如果在顯示器上的記
憶組“MX”後面緊跟“ _ ” (也就是“MX_” )，表示本測(cè)試為耐壓和絕緣連接測(cè)試或絕緣和耐
壓連接測(cè)試。 茲就單一功能測(cè)試的顯示器訊息說(shuō)明如下。
交流和直流耐壓測(cè)試的顯示器訊息大致相同，只是電壓的單位後加上“AC”或“DC”以便區(qū)
別為交流或直流耐壓測(cè)試。
4.3.1 交流耐壓測(cè)試
測(cè)試中止(Abort)
假如交流耐壓測(cè)試正在進(jìn)行之中，而按”RESET”開(kāi)關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試，LCD 顯
示器會(huì)顯示 ACW Abort，如下圖。
 
緩升測(cè)試(Ramp Up)
如交流耐壓測(cè)試設(shè)定有緩升(Ramp Up)測(cè)試程序，
在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，測(cè)試的結(jié)果
會(huì)不斷的被更新，LCD 顯示器會(huì)顯示 ACW Ramp 
Up，如右圖。
緩降測(cè)試(Ramp DN)
如果交流耐壓測(cè)試設(shè)定有緩降(Ramp DN)測(cè)試程
序，在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，液晶顯
示器會(huì)顯示 DCW Ramp DN，如右圖。
測(cè)試時(shí)間(Dwell) 
在交流耐壓測(cè)試進(jìn)行時(shí)，測(cè)試的結(jié)果會(huì)不斷的被更
新，在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，LCD 顯
示器會(huì)顯示 ACW Dwell，如右圖。31
漏電電流上限(Max Lmt)
如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量超過(guò)上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電電流
上限造成的測(cè)試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示 Max-Fail，如下圖。
短路(Short)
如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)，漏電電流量遠(yuǎn)超過(guò)本分析儀可以量測(cè)的範(fàn)圍之外，再加
上本分析儀特殊的短路判定電路動(dòng)作，會(huì)被程式判定為短路造成的測(cè)試失敗， LCD 顯
示器會(huì)顯示 ACW Short，如下圖。
耐壓崩潰(Breakdown)
如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量遠(yuǎn)超過(guò)本分析儀可以量測(cè)的範(fàn)圍，並且電弧
的電流量也遠(yuǎn)超過(guò)本分析儀所能夠量測(cè)的正常數(shù)值之外，會(huì)被程式判定為耐壓崩潰造成
的測(cè)試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示 ACW Breakdown，如下圖。
漏電電流下限(Min Lmt)
如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電電流
下限造成的測(cè)試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示 Min-Fail，如下圖。32
電弧測(cè)試失敗(Arc Fail)
如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量在設(shè)定的漏電電流上限值以?xún)?nèi)，但是電弧的
電流量超過(guò)電弧電流的設(shè)定值，造成的測(cè)試失敗，會(huì)被程定判定為被測(cè)物的電弧造成的
測(cè)試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示 Arc Fail，如下圖。
測(cè)試通過(guò)(Pass)
假如被測(cè)物在做交流耐壓測(cè)試時(shí)的整個(gè)過(guò)程都沒(méi)有任何異常的現(xiàn)象發(fā)生時(shí)，被認(rèn)定為通
過(guò)測(cè)試，LCD 顯示器會(huì)顯示 Pass，如下圖。
4.3.1.2 直流耐壓測(cè)試:
測(cè)試中止(Abort)
如直流耐壓測(cè)試正在進(jìn)行之中，而按 RESET 開(kāi)關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，LCD 顯
示器會(huì)顯示 DCW Abort，如下圖。33
緩升測(cè)試(Ramp Up)
如果直流耐壓測(cè)試設(shè)定有緩升(Ramp Up)測(cè)試程
序，在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，LCD 顯
示器會(huì)顯示 DCW Ramp Up，如右圖。
緩降測(cè)試(Ramp DN)
如果直流耐壓測(cè)試設(shè)定有緩降(Ramp DN)測(cè)試程
序，在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，LCD 顯
示器會(huì)顯示 DCW Ramp DN，如右圖。
測(cè)試時(shí)間(Dwell)
在直流耐壓測(cè)試進(jìn)行時(shí)，測(cè)試的結(jié)果會(huì)不斷的被更
新，在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，LCD 顯
示器會(huì)顯示 DCW Dwell，如右圖。
漏電電流上限(Max Lmt)
如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量超過(guò)上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電電流
上限造成的測(cè)試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示 Max-Fail，如下圖。
短路(Short)
如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)，漏電電流量遠(yuǎn)超過(guò)本分析儀可以量測(cè)的範(fàn)圍之外，再加
上本分析儀特殊的短路判定電路動(dòng)作，會(huì)被程式判定為短路造成的測(cè)試失敗，LCD 顯示
器會(huì)顯示 DCW Short，如下圖。
耐壓崩潰(Breakdown)
如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量遠(yuǎn)超過(guò)本分析儀可以量測(cè)的範(fàn)圍，並且電弧
的電流量也遠(yuǎn)超過(guò)本分析儀所能夠量測(cè)的正常數(shù)值之外，會(huì)被程式判定為耐壓崩潰造成
的測(cè)試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示 DCW Breakdown，如下圖。34
漏電電流下限(Min Lmt)
如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為漏電電流
下限造成的測(cè)試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示 Min-Fail，如下圖。
電弧測(cè)試失敗(Arc Fail) 
如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的漏電電流量在設(shè)定的漏電電流上限值以?xún)?nèi)，但是電弧的
電流量超過(guò)電弧電流的設(shè)定值，造成的測(cè)試失敗，會(huì)被程定判定為被測(cè)物的電弧造成的
測(cè)試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示 Arc Fail，如下圖。
測(cè)試通過(guò)(Pass)
假如被測(cè)物在做直流耐壓測(cè)試時(shí)的整個(gè)過(guò)程都沒(méi)有任何異常的現(xiàn)象發(fā)生時(shí)，被認(rèn)定為通
過(guò)測(cè)試，LCD 顯示器會(huì)顯示 DCW Pass，如下圖。35
4.3.3 絕緣阻抗測(cè)試
測(cè)試中止(Abort)
如絕緣阻抗測(cè)試正在進(jìn)行之中，而按 RESET 開(kāi)關(guān)或使用遙控裝置中斷測(cè)試時(shí)，LCD 顯
示器會(huì)顯示 IR Abort，如下圖。
緩升測(cè)試(Ramp Up)
如果絕緣阻抗測(cè)試測(cè)試設(shè)定有緩升(Ramp Up)測(cè)試
程序，在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，LCD
顯示器會(huì)顯示 IR Ramp Up，如右圖。
緩降測(cè)試(Ramp DN)
如果絕緣阻抗測(cè)試設(shè)定有緩降(Ramp DN)測(cè)試程
序，在本分析儀讀到第一筆測(cè)試結(jié)果之前，LCD 顯
示器會(huì)顯示 IR Ramp DN，如右圖。
延遲時(shí)間(Delay)
在絕緣阻抗測(cè)試剛開(kāi)始時(shí)，測(cè)試電壓正逐步上升的
期間之中，此時(shí)本分析儀尚未讀到第一筆測(cè)試結(jié)
果，LCD 顯示器會(huì)顯示 IR Delay，如右圖。
絕緣阻抗上限(Max Lmt)
如被測(cè)物在做絕緣阻抗測(cè)試時(shí)的阻抗值超過(guò)上限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為絕緣阻抗上限
造成的測(cè)試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示 Max-Fail，如下圖。
絕緣阻抗下限(Min Lmt)
如被測(cè)物在做絕緣阻抗測(cè)試時(shí)的阻抗值低於下限設(shè)定值，會(huì)被程式判定為絕緣阻抗下限
造成的測(cè)試失敗，LCD 顯示器會(huì)顯示 Min-Fail，如下圖。36
測(cè)試通過(guò)(Pass)
假如被測(cè)物在做絕緣阻抗測(cè)試時(shí)的整個(gè)過(guò)程都沒(méi)有任何異常的現(xiàn)象發(fā)生時(shí)，被認(rèn)定為通
過(guò)測(cè)試，液晶顯示器會(huì)顯示 IR PASS，如下圖。DC Hipot failure not detected .Check leads or call Krass
AC Hipot failure not detected .Check leads or call Krass
37
4.4 測(cè)試功能確認(rèn)
當(dāng)開(kāi)機(jī)畫(huà)面顯示產(chǎn)品型號(hào)時(shí)，按下”TEST”鍵，即可進(jìn)入測(cè)試功能確認(rèn)自我檢測(cè)狀態(tài)，進(jìn)
行判定耐壓測(cè)試的各項(xiàng)功能是否正常，RESET 開(kāi)關(guān)和 EXIT 鍵可以作為離開(kāi)正在進(jìn)行中
的自我檢測(cè)的操作鍵，如下圖。
1. AC Hipot 自我檢測(cè)功能: 以”﹀””︿”KEY，選擇“AC Hipot ”，再按”Select” KEY，在
輸出 HV、RETURN 端測(cè)試線短路，按“TEST” KEY，此時(shí) HV、RETURN 端會(huì)輸出
一電壓約 1KVAC，檢測(cè)成功，LCD 顯示 Verification OK AC Hipot failure detected，檢
測(cè)失敗，LCD 顯示 ，如下圖。
2. DC Hipot 自我檢測(cè)功能: 以”﹀””︿”KEY，選擇“DC Hipot ”，再按”Select” KEY，在
輸出 HV、RETURN 端測(cè)試線短路，按“TEST” KEY，此時(shí) HV、RETURN 端會(huì)輸出
一電壓約 1KVDC，檢測(cè)成功，LCD 顯示 Verification OK DC Hipot failure detected，檢
測(cè)失敗，LCD 顯示 ，如下圖。
Krassnot detected .Check leads or call Krass
38
3. IR自我檢測(cè)功能: 以”﹀””︿”KEY，選擇“IR”，再按”Select” KEY，在輸出HV、RETURN
端測(cè)試線短路，按“TEST” KEY，此時(shí) HV、RETURN 端會(huì)輸出一電壓約 1KVDC，檢
測(cè)成功，LCD 顯示 Verification OK IR failure detected，檢測(cè)失敗，LCD 顯示 IR failure 
。
Krass
Krass39
4.5 操作程序及步驟
7100 系列的耐壓測(cè)試器主要是設(shè)計(jì)供生產(chǎn)線自動(dòng)化以及品質(zhì)分析和檢驗(yàn)使用，其操作和
設(shè)定都非常簡(jiǎn)便。不合理的設(shè)定和操作會(huì)給予兩聲短暫?jiǎn)舻木妫瑫r(shí)退回原來(lái)設(shè)定的
狀態(tài)。請(qǐng)依照下列程序和步驟操作本分析儀。
 
1. 在將本分析儀輸入電源線的插頭接到市電電源以前，請(qǐng)先關(guān)閉本分析儀的輸入電源
開(kāi)關(guān)，並將背板上的電壓選擇開(kāi)關(guān)切換到正確的輸入電壓位置上，同時(shí)檢查保險(xiǎn)絲
的規(guī)格是否正確。然後再將地線接到本分析儀背板上的接地端子上。
2. 請(qǐng)將輸入電源線分別接到本分析儀和電源插座上，但是不要先將測(cè)試線接到本分析
儀的輸出端子上。
3. 先將被測(cè)物或其測(cè)試治具端的測(cè)試線全部接妥，然後再將回路線 (Return) 接到本分
析儀的回路端子上，被測(cè)物接地線測(cè)試的測(cè)試線接到本分析儀的端子上，最後才將
高壓測(cè)線接到本分析儀的高壓端子上，並檢查所有的測(cè)試線是否全部接妥。
4. 然後開(kāi)啟本分析儀的輸入電源開(kāi)關(guān)，然後程式會(huì)自動(dòng)出現(xiàn)本分析儀最後一次測(cè)試時(shí)
的記憶組和測(cè)試參數(shù)資料，並進(jìn)入待測(cè)和參數(shù)設(shè)定模式。 
註明：如果記憶組 MX-X 後面帶有 _ 時(shí)，表示該步驟測(cè)試完成後，會(huì)自動(dòng)連接到
下一個(gè)測(cè)試步驟。
5. 請(qǐng)先參考一般測(cè)試參數(shù)設(shè)定的說(shuō)明，將本分析儀的一般測(cè)試參數(shù)，PLC 遙控 (PLC 
Remote) 、 單一步驟連結(jié)測(cè)試 (Single Step)、 警報(bào)音量 (Alarm)、LCD 反襯亮度
(Contrast)、測(cè)試結(jié)果選擇(Results)、鍵盤(pán)鎖定(Lock)、程式記憶組鎖定( Mem Lock)、
接地中斷停止(Smart GFI)設(shè)定完成。
6. 如果要重新設(shè)定測(cè)試參數(shù)，請(qǐng)按 Test 鍵，進(jìn)行參數(shù)設(shè)定模式，重新設(shè)定測(cè)試參數(shù)，
詳細(xì)的設(shè)定方式、程序和步驟，請(qǐng)參考測(cè)試參數(shù)設(shè)定的說(shuō)明。如果鍵盤(pán)被鎖定，請(qǐng)
先參照鍵盤(pán)鎖定的說(shuō)明，先將鍵盤(pán)解鎖定，才能進(jìn)行測(cè)試參數(shù)設(shè)定。
7. 如果要選擇記憶組內(nèi)的測(cè)試參數(shù)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，請(qǐng)按 Menu 鍵，程式會(huì)進(jìn)入記憶組的
選擇模式，請(qǐng)用 Memory 鍵將要選擇作為測(cè)試的程式記憶組，記憶組選擇完成後，
再按 Exit 鍵離開(kāi)，程式會(huì)自動(dòng)叫出將該記憶組的測(cè)試參數(shù)並回到等待測(cè)和設(shè)定模式。
8. 如果要重新選擇記憶組內(nèi)測(cè)試步驟的參數(shù)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，請(qǐng)按 STEP 鍵，程式會(huì)進(jìn)入
記憶組步驟的選擇模式。，測(cè)試步驟為 1~3 共 3 個(gè)步驟。如果要將測(cè)試步驟連接到
下一個(gè)步驟作連接測(cè)試時(shí)，請(qǐng)參考“測(cè)試參數(shù)設(shè)定”的說(shuō)明，將 Connect 選擇為 ON。40
9. 如果要進(jìn)行測(cè)試，請(qǐng)按 TEST 開(kāi)關(guān)，此時(shí)面板上紅色的高電壓符號(hào)會(huì)閃爍，測(cè)試進(jìn)
行 時(shí)請(qǐng)勿觸碰被測(cè)物件，以策安全。
10. 如果在測(cè)試進(jìn)行中要中止測(cè)試，請(qǐng)按 RESET 開(kāi)關(guān)，本分析儀立即停止測(cè)試，LCD
顯示器會(huì)保留當(dāng)時(shí)的測(cè)試值。如要繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試，請(qǐng)?jiān)侔疵姘迳系?TEST 開(kāi)關(guān)，程
式會(huì)再繼續(xù)測(cè)試未完成的測(cè)試步驟，如果要重新由第一個(gè)測(cè)試步驟再開(kāi)始測(cè)試時(shí)，
請(qǐng)?jiān)侔?RESET 開(kāi)關(guān)，再按 TEST 開(kāi)關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)由第一個(gè)測(cè)試步驟開(kāi)始測(cè)試。
11. 如果由於被測(cè)物的測(cè)試失敗，本分析儀立即停止測(cè)試並且顯示器會(huì)顯示的狀態(tài)和失
敗時(shí)的數(shù)值，此時(shí)紅色 REST 開(kāi)關(guān)內(nèi)的指示燈會(huì)亮，同時(shí)發(fā)出嗶的警告聲音。如要
繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試，請(qǐng)?jiān)侔疵姘迳系?TEST 開(kāi)關(guān)，程式會(huì)再繼續(xù)測(cè)試未完成的測(cè)試步驟，
如果要重新由第一個(gè)測(cè)試步驟再開(kāi)始測(cè)試時(shí)，請(qǐng)先按 RESET 開(kāi)關(guān)，再按 TEST 開(kāi)
關(guān)，程式會(huì)自動(dòng)由第一個(gè)測(cè)試步驟開(kāi)始測(cè)試。也可以按 RESET 開(kāi)關(guān)關(guān)閉警報(bào)聲音而
保留測(cè)試讀值，但再按 TEST 開(kāi)關(guān)時(shí)，程式會(huì)自動(dòng)由第一個(gè)測(cè)試步驟開(kāi)始測(cè)試。有
關(guān)各種測(cè)試失敗的顯示器信息，請(qǐng)參考顯示器信息的說(shuō)明。
12. 如果要使用外部遙控裝置操作本耐壓測(cè)試器，請(qǐng)將遙控器接到背板上的遙控輸入端
子上。遙控器上 TEST 和 RESET 開(kāi)關(guān)的功能、作用與本分析儀上的開(kāi)關(guān)完全相同。
13. 本分析儀備有 PASS、FAIL 和 PROCESSING 遠(yuǎn)端監(jiān)視信號(hào)的輸出和遙控呼三組記
憶組的功能，如要使用這些功能，請(qǐng)參考遙控輸入和輸出訊號(hào)的說(shuō)明。
14. 7130、7132、7140 和 7142 可以和本公司的交流接地阻抗測(cè)試器 7315 作連接測(cè)試。
連接測(cè)試的方式分為兩種，一為同時(shí)進(jìn)行測(cè)試，另一為接地阻抗測(cè)試或耐壓測(cè)試完
成後，再進(jìn)行另一項(xiàng)功能的測(cè)試。 41
4.6 耐壓/絕緣測(cè)試器和接地阻抗測(cè)試器連動(dòng)測(cè)試
耐壓/絕緣測(cè)試器(7130/7132/7140/7142)可與交流接地阻抗測(cè)試器(7314/7315/7316)作連動(dòng)
測(cè)試有下列二種測(cè)試方式: 
1. 先作交流接地阻抗測(cè)試，在交流接地阻抗測(cè)試執(zhí)行完成並且通過(guò)測(cè)試後，再執(zhí)行耐壓
測(cè)試。
2. 交流接地阻抗測(cè)試和耐壓測(cè)試同時(shí)執(zhí)行測(cè)試。
大部份的安規(guī)規(guī)範(fàn)和安規(guī)執(zhí)行單位都規(guī)定採(cǎi)取第一種測(cè)試方式， 第二種方式大多為生產(chǎn)
廠商為了縮短製造工時(shí)，而將兩種測(cè)試同時(shí)執(zhí)行，理論上兩種測(cè)試同時(shí)執(zhí)行並不會(huì)造成
任何問(wèn)題或危險(xiǎn)，但是如果其中之一臺(tái)儀器有異常狀況發(fā)生，非?？赡茉斐刹僮魅藛T的
危險(xiǎn)或傷害，也可能使另一臺(tái)儀器跟著出現(xiàn)異常狀況。
交流接地阻抗測(cè)試連動(dòng)耐壓測(cè)試的接線和說(shuō)明
1. 本接線方式為交流接地阻抗測(cè)試為主機(jī)(Msater)作控制，在交流接地阻抗測(cè)試執(zhí)行完
成並且通過(guò)測(cè)試後再執(zhí)行耐壓測(cè)試或同時(shí)輸出測(cè)試其接線方式如圖(A)。
2. 7314/7316 與 耐壓測(cè)試器作連結(jié)測(cè)時(shí)，直接將耐壓測(cè)試器輸出 Return 線與交流
接地阻抗測(cè)試線接至被測(cè)物(DUT)上，7314/7316 機(jī)器本身並無(wú)與耐壓測(cè)試器輸出作連
結(jié)的共地端子。
 
 
7142 7315 
Signal Output Signal Input Signal Output Signal Input
RETURN 
INTERCONNECT 
圖(A) 灰色 1217 
白色 1218 
註：1217 灰色信號(hào)連接線接一端接 7142 Signal Output 另一端接 7314/7315/7316 Signal Input 
1218 白色信號(hào)連接線接一端接 7142 Signal Input 另一端接 7314/7315/7316 Signal Input 
KRASS42
第五章 界面說(shuō)明
5.1 標(biāo)準(zhǔn)遙控界面 ( Remote I / O ) 
在本分析儀的背板上配置有兩個(gè) D 型 (9PIN) 連接端子，提供為遙控輸入控制訊號(hào)和輸
出信息輸出。這些連接端子和標(biāo)準(zhǔn)的 D 型 (9PIN) 連接頭互相匹配，必須由使用者自備。
為了能達(dá)到最佳的效果，建議使用隔離線作為控制或信息的連接線，為了不使隔離地線
成為一個(gè)迴路而影響隔離效果，必須將隔離線一端的隔離網(wǎng)接地。
背板遙控界面
5.1.1 遙控訊號(hào)輸出 ( Signal Output ) 
在本分析儀的背板上備有遙控訊號(hào)輸出端子，將儀器的測(cè)試通過(guò) (PASS)、測(cè)試失敗
(FAIL) 、測(cè)試停止/重置(REST)和測(cè)試中 (PROCESSING) 等訊號(hào)，提供為遙控監(jiān)視之
用。這些訊號(hào)的現(xiàn)狀分別由儀器內(nèi)部三個(gè)繼電器 (Relay) 提供不帶電源的常開(kāi) (N.O.) 接
點(diǎn)，其接點(diǎn)的容量為 : AC 250V 1.0 Amp / DC 250V 0.5 Amp。
備註 :這些接點(diǎn)沒(méi)有正負(fù)極性的限制，同時(shí)每一個(gè)信號(hào)是獨(dú)立的接線，沒(méi)有共同的地線
(COMMON )。訊號(hào)是由本分析儀背板上配置的 D 型 (9 PIN) 連接端子輸出，端子上附
有腳位編號(hào)的標(biāo)示，每個(gè)輸出訊號(hào)的接線分別如下: 
1. PASS 訊號(hào) 接在 PIN 1 和 PIN 2 之間。
2. FAIL 訊號(hào) 接在 PIN 3 和 PIN 4 之間。
3. PROCESSING 訊號(hào) 接在 PIN 5 和 PIN 6 之間。
4. REST OUT 訊號(hào) 接在 PIN 7 和 PIN 8 之間。
5.空腳 接在 PIN 9 為未使用的空腳。43
5.1.2 外控訊號(hào)輸入與記憶程式( Signal Input ) 
在本分析儀的背板上配置有遙控訊號(hào)輸入端子，可以由外接遙控裝置操作儀器的
INTERLOCK 和 TEST 及 RESET 的功能或呼叫預(yù)設(shè)於三組記憶程式中的任何一組測(cè)試
參數(shù)，逕行使用另外的測(cè)試開(kāi)關(guān)，直接進(jìn)行測(cè)試，不需由面板設(shè)定和使用面板上的”TEST”
開(kāi)關(guān)。當(dāng) PLC 遙控功能設(shè)定為 ON 時(shí)，面板上的 TEST 開(kāi)關(guān)被設(shè)定為不能操作，以避免
雙重操作引起的誤動(dòng)作和危險(xiǎn)，此時(shí)面板上的 RESET 開(kāi)關(guān)依然可以操作，以便隨時(shí)在
任何地方都可以關(guān)閉高壓輸出。
備註:如不使用遙控裝置操作時(shí)，需將解除(INTERLOCK)鎖定附件，安裝至遙控訊號(hào)輸
入端子上。
以下為遙控裝置的接線方式 : 
1. RESET 控制 控制開(kāi)關(guān)接在 PIN 2 和 PIN 5 之間
2. TEST 控制 控制開(kāi)關(guān)接在 PIN 3 和 PIN 5 之間
3. INTERLOCK 控制 控制開(kāi)關(guān)接在 PIN 4 和 PIN 5 之間
PIN 5 為遙控電路的共同 (COMMON) 地線
注意 : 絕對(duì)不能再接上任何其它的電壓或電流電源，如果輸入其它的電源，會(huì)造成儀器
內(nèi)部控制電路的損壞或誤動(dòng)作。
遙控記憶程式的訊號(hào)輸入，必須使用常開(kāi)(N.O.)的瞬接(MOMENTARY)開(kāi)關(guān)作為控制的
工具，以下為其接線方式: 
1. 第一組記憶程式 控制開(kāi)關(guān)接在 PIN 7 和 PIN 8 之間
2. 第二組記憶程式 控制開(kāi)關(guān)接在 PIN 7 和 PIN 9 之間
3. 第三組記憶程式 控制開(kāi)關(guān)接在 PIN7、PIN 8 和 PIN 9 三個(gè) PIN 之間
PIN 7 為遙控記憶程式的訊號(hào)輸入電路的共同(COMMON)地線
註明 :1.PIN 1、PIN 4 和 PIN 6 為未使用的空腳。
2.遙控輸入訊號(hào)分為遙控操作和遙控記憶程式組兩個(gè)組群，每一個(gè)組群的電源和
共同地線自獨(dú)立，不能混淆。44
5.1.3 Remote 訊號(hào)時(shí)序圖 
1. 測(cè)試時(shí)間最短為 0.4S, Ramp Time (0.1S) + Dwell Time (0.3S) 
2. PASS LED 訊號(hào)同 PASS 訊號(hào)同步
3. FAIL LED 訊號(hào)同 FAIL 訊號(hào)同步
4. ALARM 訊號(hào)同 PASS or FAIL 
ACW
Ramp Time 
Dwell Time
180ms 0.1s 0.3s 
O/P 
PROC 
PASS 
FAIL 
TEST 
M1 
M2 
M3 45
DCW
特殊 DCW
Ramp Time 
Dwell Time
180ms 0.1s 0.3s 250ms 
O/P 
PROC 
PASS 
FAIL 
TEST 
M1 
M2 
M3 
Ramp Time 
O/P Dwell Time
PROC 
PASS 
FAIL 
TEST 
M1 
M2 
M3 
180ms 0.1s 0.3s 250ms 46
5.2 RS485 界面(選購(gòu)) 
在本分析儀的背板上配置有一個(gè) D 型 (9PIN) 連接端子，提供為 RS485 界面卡連接用。
這個(gè)連接端子是用來(lái)與 RS485 界面卡連接用的標(biāo)準(zhǔn)的 D 型 (9PIN) 連接線必須互相匹
配，最多可同時(shí)進(jìn)行 100 臺(tái)的連結(jié)測(cè)試。(請(qǐng)確實(shí)依照下列圖示作連接，切勿接錯(cuò)) 
5.2.1 接線方法
 . 
 . 
 以下以此類(lèi)推
MASTER
SLAVE 1
SLAVE 247
參數(shù)設(shè)定
Master 設(shè)定:在”SYSTEM”內(nèi)的”485 Mode” 
用”+”鍵來(lái)選擇”Master”或”Slave”，選擇 Master 後
用面板的“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Slave Qty 設(shè)定連線的
臺(tái)數(shù)，Master 需扣除在外，如右圖。
Slave 設(shè)定: 在”SYSTEM”內(nèi)的”485 Mode”用”+”鍵
來(lái)選擇”Master”或”Slave”，選擇 Slave 後用面板的
“∧”或“∨”鍵移動(dòng)至 Address 設(shè)定每一臺(tái)的位置，號(hào)
碼需從 1 開(kāi)始，必須連續(xù)且不可重複，如右圖。
5.2.2 指令清單
下列指令被作為驅(qū)動(dòng) ON/OFF 功能或選擇各種參數(shù)表之用。執(zhí)行這些指令時(shí)，不需使用
任何其他數(shù)值或參數(shù)。
COMMANDS & QUERY DISCRIPTION 
SETTING COMMAND COMMAND 
ADDRESS(X) X nnn 
TEST TEST 
RESET RESET 
MEMORY:STEP:SELECT:mn MSS mn 
ACW ACW 
DCW DCW 
IR IR 
VOLTAGE:XXXX VOLT nnnn 
MAX_LIMIT:XXXX MAXL nnnn 
MIN_LIMIT:XXXX MINL nnnn 
RAMP_UP:XXXX RUP nnnn 
DWELL_DELAY_TIME:XXXX DDT nnnn 
RAMP_DOWN:XXXX RDN nnnn 
ARC:X ARC n 
FREQUENCY:XX FREQ nn 
CONTINUITY:X(ON=1,OFF=0) CONT n 
CONTINUITY:MAX_LIMIT:XXX CMAL nnn 
CONTINUITY:MIN_LIMIT:XXX CMIL nnn 
CONTINUITY:OFFSET:XX COFF nn 48
CONTINUITY:AUTO_OFFSET CAOF 
AUTO_OFFSET AOFF 
AUTO_CHARGE ACHA 
CHARGE_LOW CHAR nnnn 
CONNECT:X(ON=1,OFF=0) CONN n 
PLC_REMOTE:X(ON=1,OFF=0) PLC n 
SINGLE_STEP:X(ON=1,OFF=0) SSTP n 
ALARM:X ALAR n 
CONTRAST:X CNTR n 
RESULTS:X(Last=L,All=A,P/F=P) RLT n 
SMART_GFI:X(ON=1,OFF=0) SGFI n 
POLL:XXX POLL nn 
P:XXX P nn 
STEP_ALL:(ALL PARAMETER) SALL nn,nn... 
TEST_DATA_QUERY:? TD? 
RESULT_DATA_QUERY:n?(n=STEP) RD n? 
STEP_ALL_QUERY:? SALL? 
READ_RESET_QUERY:? RR? 
READ_INTERLOCK_QUERY:? RI? 
COMMANDS & QUERY SEND_OUT 
COMMAND DISCRIPTION COMMAND 
TEST TEST 
RESET RESET 
MEMORY:STEP:SELECT:mn MSS mn 
POLL:XXX POLL nn 
STEP_ALL:(ALL PARAMETER) SALL nn,nn... 
TD? MX-X_,FUNC,STATUS,V,A(R),T 
RD n? MX-X_,FUNC,STATUS,V,A(R),T 
SALL? SALL nn,nn... 
RR? n (0=CLOSE,1=OPEN) 
RI? n (0=CLOSE,1=OPEN)  
內(nèi)，以確保儀錶的精確度完全符合 電子型錄上的規(guī)範(fàn)。
 電子建議本儀器至少每年需要做一次校正，校
完全符合 電子型錄上的規(guī)範(fàn)，甚至更為精確，同時(shí)本手冊(cè)附有“校正聲明書(shū)”。
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第六章 儀錶校正
本儀器在出廠前，已經(jīng)按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)校正程序，校正過(guò)本儀器上的儀錶，儀錶的精確度
正用標(biāo)準(zhǔn)儀錶的精確度必須在 0.5%以
6.1 校正步驟
按背板“CAL” KEY 開(kāi)機(jī)，進(jìn)入校正模式(如下圖所示)。
ACW 電壓校正
以“Move” KEY，選擇“AC 5000V ”，再按”Select” KEY，在輸出 HV、 RETURN 端並接
一標(biāo)準(zhǔn)高壓電壓表，按“TEST” KEY，此時(shí) HV、RETURN 端會(huì)輸出一電壓約 5KVAC，
將標(biāo)準(zhǔn)高壓電壓表讀值輸入，再按“ENTER” KEY 即可。
DCW 電壓校正
以“Move” KEY，選擇“DC 6000V ”， 再按”Select” KEY，在輸出 HV、RETURN 端並接
一標(biāo)準(zhǔn)高壓電壓表，按“TEST” KEY，此時(shí)會(huì)輸出一電壓約 6KVDC，將標(biāo)準(zhǔn)電壓表讀值
輸入，再按“ENTER”KEY 即可。
IR 電壓校正
以“Move” KEY，選擇“IR 1000V ”， 再按”Select” KEY，在輸出 HV、RETURN 端並接一
標(biāo)準(zhǔn)高壓電壓表，按“TEST”KEY，此時(shí)會(huì)輸出一電壓約 1KVDC，將標(biāo)準(zhǔn)電壓表讀值輸
入，再按“ENTER” KEY 即可。
ACW 高檔電流校正
嘉仕
嘉仕
嘉
仕50
以“Move” KEY，選擇“AC 20.00mA”， 再按”Select” KEY，
在輸出 HV、RETURN 端接一負(fù)載約 100K?，再串聯(lián)一標(biāo)準(zhǔn)電流表，按“TEST” KEY，此
時(shí)會(huì)輸出約 1KVAC 之電壓，將標(biāo)準(zhǔn)電流表讀值輸入，再按“ENTER” KEY 即可。
ACW 低檔電流校正
以“Move” KEY，選擇“AC 3.500mA”，再按”Select” KEY，在輸出 HV、RETURN 端接一
負(fù)載約 100K?，再串聯(lián)一標(biāo)準(zhǔn)電流表，按“TEST” KEY，此時(shí)會(huì)輸出約 300VAC 之電壓，
將標(biāo)準(zhǔn)電流表讀值輸入，再按“ENTER” KEY 即可。
DCW 高檔電流校正
以“Move” KEY，選擇“DC 7.50mA”， 再按”Select” KEY，在輸出 HV、RETURN 端接一
負(fù)載約 100K?，再串聯(lián)一標(biāo)準(zhǔn)電流表，按“TEST” KEY，此時(shí)會(huì)輸出約 700VDC 之電壓，
將標(biāo)準(zhǔn)電流表讀值輸入，再按“ENTER” KEY 即可。
DCW 低檔電流校正
以“Move” KEY，選擇“DC 3.500mA”， 再按”Select” KEY，在輸出 HV、RETURN 端接一
負(fù)載約 100K?，再串聯(lián)一標(biāo)準(zhǔn)電流表，按“TEST” KEY，此時(shí)會(huì)輸出約 300VDC 之電壓，
將標(biāo)準(zhǔn)電流表讀值輸入，再按“ENTER” KEY 即可。
DCW 低檔電流校正
以“Move” KEY，選擇“DC 350.0µA”， 再按”Select” KEY，在輸出 HV、RETURN 端接一
負(fù)載約 1M?，再串聯(lián)一標(biāo)準(zhǔn)電流表，按“TEST” KEY，此時(shí)會(huì)輸出約 300VDC 之電壓，
將標(biāo)準(zhǔn)電流表讀值輸入，再按“ENTER” KEY 即可。
IR 低阻校正
以“Move” KEY，選擇“IR 999.9MΩ”， 再按”Select” KEY，在輸出 HV、RETURN 端接一
標(biāo)準(zhǔn)電阻 50M?，按“TEST” KEY，此時(shí)會(huì)自動(dòng)將標(biāo)準(zhǔn)電阻之讀值輸入，即完成低阻校正。
IR 高阻校正
以“Move” KEY，選擇“IR 9999MΩ”， 再按”Select” KEY，在輸出 HV、RETURN 端接一
標(biāo)準(zhǔn)電阻 50M?，按“TEST” KEY，此時(shí)會(huì)自動(dòng)將標(biāo)準(zhǔn)電阻之讀值輸入，即完成高阻校正。51
6.2 校正完成
本儀器在輸入校正參數(shù)後，必須先關(guān)閉輸入電源，然後再開(kāi)機(jī)，否則無(wú)法進(jìn)入待測(cè)模式。
關(guān)閉輸入電源時(shí)，程式會(huì)自動(dòng)將校正參數(shù)存入校正的記憶體內(nèi)。程式不接受不合理的輸
入，如有不合理的輸入會(huì)發(fā)出兩生短暫“嗶”的警告聲並退回原來(lái)狀態(tài)，等待重新輸入。
請(qǐng)?zhí)貏e注意下列事項(xiàng)
• EXIT 鍵和 RESET 開(kāi)關(guān)可以作為離開(kāi)正在進(jìn)行中的校正模式的操作鍵。
• 本儀器在校正後，必須先關(guān)閉輸入電源然後再開(kāi)機(jī)，否則本儀器無(wú)法進(jìn)入設(shè)定或待測(cè)
模式。
• 所存入的校正參數(shù)會(huì)被保存於記憶體內(nèi)，除非再更改否則不會(huì)變動(dòng)或消失。
• 建議本耐壓測(cè)試器的校正週期為一年。